テラヘルツ分光測定装置
2014-08-27
| 保有機関 | 秋田大学 |
|---|---|
| 設置場所 | 秋田大学地方創生センター１号館 |
概要・用途
管理担当者
秋田大学大学院 理工学研究科 数理・電気電子情報学専攻 水戸部 一孝
設備構成
| 名称 | 数量 | 型番 |
| テラヘルツ分光測定装置 | 1 | TSS-ⅡGW |
| 界面測定装置 | 1 | |
| 試料冷却装置 | 1 | |
| 高感度測定装置 | 2 |
測定原理・その他の詳細
・テラヘルツ光源：単一周波数掃引型，差周波発生方式 発振周波数 0.3THz～45THz(GaP，GaSe)
・線 幅：4GHz以下（@2THz近傍）
・テラヘルツ検出器：手動切り替え
0.5THz～7.0THz 室温測定用，周波数較正用：DTGS (1 set 3台）
12THz～50 THz 高周波領域測定用：MCT (1 set 2台）
・試料温度範囲 ：室温
※注意事項：水による吸収が大きいため，水分を含有した試料は測定できません．
使用料
780円/時
設置場所
秋田大学地方創生センター１号館 204研究室
使用例
試料分子の結合状態の測定等．THz帯の電磁波による可視化技術開発を実施するために使用．
総合問い合わせ窓口
秋田大学 地方創生センター
〒010-8502秋田市手形学園町１－１
Tel : 018-889-2680
E-mail:chihosose1@gipc.akita-u.ac.jp
